EBIC পরীক্ষার জন্য নমুনাগুলি আধাপরিবাহক উপাদান হতে হবে এবং ইলেকট্রন ছিদ্র জোড়াগুলি পৃথক করার জন্য অভ্যন্তরীণ বৈদ্
পরিমাপের মাধ্যমে, আমরা পিএন নোডের অবস্থান, প্রস্থ পেতে পারি, IV বক্ররেখা গবেষণার মাধ্যমে সংশোধন বৈশিষ্ট্যগুলি নির্ধারণ করতে পারি, কয়েকটি বাহকের প্

উদাহরণ 1: পরীক্ষা পিএন সংযোগ অবস্থান, প্রস্থ, ছোট প্রসারণ দৈর্ঘ্য

উদাহরণ 2: সেমিকন্ডাক্টর উপাদানগুলির বিট ত্রুটি ঘনত্ব পরীক্ষা করুন এবং পরিমাণাত্মকভাবে Si সৌর সেল উপাদানগুলিত